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晶闸管少子寿命万向注册

更新时间:2012-06-20      浏览次数:1891

晶闸管少子寿命万向注册用于测试可控硅或PN结(二极管)的长基区少子寿命。数字显示测试结果,自动测试。

晶闸管少子寿命万向注册主要技术参数:

少子寿命测量范围:0.1-99us
外形尺寸:440X×440×150mm
整机重量:10kg

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